Magnum 7H High Bandwidth Memory Tester di Teradyne: tester di memorie di nuova generazione progettato per rispondere alle rigorose esigenze di collaudo delle memorie HBM che vengono utilizzate insieme a GPU e acceleratori nei server ad alte prestazioni per l’AI generativa.
Magnum 7H, tester di memorie di nuova generazione. Teradyne, leader nei sistemi di collaudo automatico per elettronica e robotica avanzata, presenta Magnum 7H, un tester di memorie di nuova generazione progettato per soddisfare le esigenze di collaudo dei dispositivi di memoria ad elevata larghezza di banda (HBM-High Bandwidth Memory).
Questo strumento è essenziale per i dispositivi utilizzati insieme a GPU e acceleratori nei server ad alte prestazioni per l’Intelligenza Artificiale generativa.
Un tester all'avanguardia per memorie HBM
Magnum 7H è stato progettato per effettuare test a elevato livello di parallelismo, alta velocità e massima precisione su memorie HBM con più die sovrapposti (stacked die), prodotte in grandi volumi.
I primi dispositivi HBM realizzati in serie e collaudati con il tester Magnum 7H di Teradyne sono già stati consegnati, e il ritmo di produzione è in fase di crescita presso i principali costruttori di memorie HBM attivi sul mercato.
Supporto per le ultime versioni HBM
Magnum 7H è compatibile con una vasta gamma di versioni dello standard HBM, inclusi HBM2E, HBM3, HBM3E, HBM4 e HBM4E. Offre una copertura di test completa, dal test dei wafer base-die al test del core di memoria e al burn-in, garantendo qualità e affidabilità dei dispositivi HBM.
Inoltre, supporta il test di dispositivi HBM pre-separati (pre-singulated) a livello Known-Good-Stack-Die (KGSD) o Chip-on-Wafer con probers e probe card tradizionali, così come di dispositivi HBM post-separati (post-singulated) con nuovi bare-die probers/handlers, per migliorare la qualità complessiva dei dispositivi di memoria.
Caratteristiche tecniche avanzate
Magnum 7H offre numerose funzionalità avanzate per garantire prestazioni elevate e affidabilità nei test:
Qualità del dispositivo migliorata: l’elevata velocità di reazione dell’alimentazione dinamica (Dynamic Power Supply) garantisce una maggiore resa dei dispositivi.
Test completi su memorie e logica: Magnum 7H è ideale per verificare stack HBM che includono sia die logici sia die di memoria DRAM. Esegue test di memoria ad alta velocità con generatore di pattern algoritmici (APG) flessibile e test logici con l’opzione Logic Vector Memory (LVM). La funzione Fail List Streaming (FLS) assicura la cattura rapida degli errori sia nei test di memoria sia nei test logici.
Prestazioni elevate: test ad alta velocità per dispositivi HBM3/3E e di nuova generazione HBM4/4E, fino a 4,5 Gbps.
Elevato parallelismo: essenziale per ridurre il costo totale di test delle memorie HBM, il tester Magnum 7H è configurabile con fino a 9.216 pin digitali e 2.560 pin di alimentazione, garantendo un’elevata efficienza di contatto in fase di probing e un aumento del throughput del 1,6x in ambienti di produzione di massa.
Applicazioni in ambito AI e cloud
La crescente domanda di prestazioni ed efficienza nelle applicazioni di AI e infrastrutture cloud sta spingendo la richiesta di memorie HBM. Magnum 7H di Teradyne è un tester di memoria di nuova generazione, progettato per collaudare i dispositivi HBM di oggi e di domani con alto livello di parallelismo, velocità e precisione, lungo l’intero processo produttivo.
Conclusioni
Il lancio di Magnum 7H rappresenta un passo significativo nell’evoluzione dei sistemi di collaudo per memorie HBM, rispondendo alle esigenze di prestazioni elevate e affidabilità richieste dalle applicazioni di intelligenza artificiale e infrastrutture cloud. Con il supporto per le ultime versioni HBM e caratteristiche tecniche avanzate, Magnum 7H si posiziona come una soluzione ideale per i produttori di dispositivi HBM che cercano un tester di memoria all’avanguardia.
